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接触式测厚仪-CHY-U高精度测厚仪

2026年09月12日 16:36:40 人气: 12 来源: 济南辰驰试验仪器有限公司

在材料生产和加工领域,厚度测量常常面临一个矛盾:软质材料怕压伤,硬质材料怕接触不良。用同一套参数去测薄膜和金属箔,往往要么薄膜被压出凹痕,要么硬质表面接触不充分导致数据偏小。CHY-U高精度测厚仪通过模块化设计,在接触式原理基础上实现了压力与接触面积的可选配置,让“一机覆盖多材质”成为可能。

薄膜测厚1.jpg

 

接触式原理,关键在于“压力与面积”的匹配

测厚仪的测试原理并不复杂——测量头以固定压力压在试样上,通过位移传感器读取厚度值。但核心难点在于:不同材料对压力和接触面积的敏感度不同。对于电池隔膜、电容薄膜等柔软材料,过大的压力会产生压缩形变,测出的厚度低于真实值;而对于纸张、纸板,则需要较大压力来模拟实际层压状态。

 

CHY-U为此提供了两套标配方案:薄膜材料选用17.5±1kPa压力、50mm?接触面积;纸张材料选用100±1kPa压力、200mm?接触面积。用户在下单时根据主营产品选定一种配置,即可获得与相关测试标准接轨的测量条件。这种“因材施教”的设计思路,避免了单一参数通吃所有场景的尴尬。

薄膜测厚9.jpg

 

量程可定制,不局限于2mm

标准量程0-2mm已能覆盖绝大多数薄膜、箔片及硅片的厚度范围。但对于特殊厚型材料,厂家支持量程定制,进一步拓宽了仪器的适用边界。这一灵活性使得CHY-U不仅适用于电子材料行业,也可延伸至橡胶片、密封垫片等较厚软质材料的初步检测。

 

硬质材料的触点测量优势

对于太阳能硅片、金属箔片等硬质平面材料,接触式测量反而比光学测量更具优势——因为它不受材料表面颜色、反光率或透明度的干扰,直接依靠物理接触获取机械厚度值。测量头在固定压力下垂直升降,能有效反映材料表面的微观起伏,帮助工艺人员判断辊压或涂布工序的均匀性。

薄膜测厚12.jpg

 

整机紧凑,进样方式灵活

CHY-U外形尺寸约450×340×390mm,重量20kg,适合置于通风橱或标准实验台面上。手动进样为标配,对于需要定点精确测量的场景已足够;若有连续多点测试需求,则可选配自动进样器,实现步进距离与速度的可编程控制,进一步减少人为位置误差。

 

小结

测厚仪选型从来不是只看分辨率一项指标。压力、接触面积、量程、数据输出方式以及是否支持自动化,都直接影响日常使用的便利性与结果的可信度。CHY-U通过模块化压力配置、定制化量程以及灵活的数据管理选项,为不同材质、不同规模的测厚需求提供了一个兼顾专业性与性价比的中间路线。在购买前,建议结合自身常测试的材料类型,选择对应的压力与面积模块,这样才能让仪器真正“物尽其用”。




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